振動試験、環境試験のソリューションパートナー

温(湿)度試験槽(チャンバー)

Fシリーズ振動試験装置と組み合わせて複合環境試験を行う、温(湿)度試験槽です。
標準の試験槽内寸法、温度、湿度範囲を用意していますので、ご要望の試験条件に合わせた複合環境試験装置を構成することができます。

仕様

■ 温度試験槽(オーブン)

型式VC-062AVC-082AVC-102A
試験槽槽内寸法

600W×700H×600D mm
[容積252 L]

800W×800H×800D mm
[容積512 L]

1000W×1000H×1000D mm
[容積1000 L]

温度範囲

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃

温度変化速度
(上昇)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)
(温度試験槽単体の場合)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)
(温度試験槽単体の場合)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)
(温度試験槽単体の場合)

温度変化速度
(下降)
試験槽移動機構

槽固定式
槽レール移動式

槽固定式
槽レール移動式

槽固定式
槽レール移動式

複合方式

引出し式
丸穴方式

引出し式
丸穴方式

引出し式
丸穴方式

記録計

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ 

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ 

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ

※ オプション   最大温度200℃

 

■ 温度試験槽(オーブン)

型式VC-062AVC-082AVC-102A
試験槽槽内寸法

600W×700H×600D mm
[容積252 L]

800W×800H×800D mm
[容積512 L]

1000W×1000H×1000D mm
[容積1000 L]

温度範囲

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃

温度変化速度
(上昇)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)

(温度試験槽単体の場合)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)

(温度試験槽単体の場合)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)

(温度試験槽単体の場合)

温度変化速度
(下降)
試験槽移動機構

槽固定式
槽レール移動式

槽固定式
槽レール移動式

槽固定式
槽レール移動式

複合方式

引出し式
丸穴方式

引出し式
丸穴方式

引出し式
丸穴方式

記録計

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ 

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ 

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ

 ※ オプション   最大温度200℃

 

■ 温(湿)度試験槽

型式VC-062DVC-082DVC-102D
試験槽槽内寸法

600W×700H×600D mm
[容積252 L]

800W×800H×800D mm
[容積512 L]

1000W×1000H×1000D mm
[容積1000 L]

温度範囲

-25~+100℃
-25~+150℃
-25~+180℃
-40~+100℃
-40~+150℃
-40~+180℃
-55~+100℃
-55~+150℃
-55~+180℃
-70~+100℃
-70~+150℃
-70~+180℃

-25~+100℃
-25~+150℃
-25~+180℃
-40~+100℃
-40~+150℃
-40~+180℃
-55~+100℃
-55~+150℃
-55~+180℃
-70~+100℃
-70~+150℃
-70~+180℃

-25~+100℃
-25~+150℃
-25~+180℃
-40~+100℃
-40~+150℃
-40~+180℃
-55~+100℃
-55~+150℃
-55~+180℃
-70~+100℃
-70~+150℃
-70~+180℃

温度変化速度(上昇)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)

(温度試験槽単体の場合)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)

(温度試験槽単体の場合)

2℃/分(平均)
(+20~+100 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+150 ℃)

2℃/分(平均)
(+20~+180℃)

(温度試験槽単体の場合)

温度変化速度(下降)

1℃/分(平均)
(+20~-40 ℃)

1℃/分(平均)
(+20~-55 ℃)

1℃/分(平均)
(+20~-70 ℃)

(温度試験槽単体の場合)

1℃/分(平均)
(+20~-40 ℃)

1℃/分(平均)
(+20~-55 ℃)

1℃/分(平均)
(+20~-70 ℃)

(温度試験槽単体の場合)

1℃/分(平均)
(+20~-40 ℃)

1℃/分(平均)
(+20~-55 ℃)

1℃/分(平均)
(+20~-70 ℃)

(温度試験槽単体の場合)

湿度範囲30~98 %RH30~98 %RH30~98 %RH
試験槽移動機構

槽固定式
槽レール移動式

槽固定式
槽レール移動式

槽固定式
槽レール移動式

複合方式

引出し式
丸穴方式

引出し式
丸穴方式

引出し式
丸穴方式

記録計

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ 

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ 

180 mm 2打点 25 mm/H
100 mm 2打点 25 mm/H
ハイブリッド記録計(μR)
コンパクトフラッシュメモリ

※ オプション   最大温度200℃

 ■  型式コード表

 仕様形式コード
試験槽槽内寸法

600W×700H×600D mm 容積[252ℓ]
800W×800H×800D mm 容積[512ℓ]
1000W×1000H×1000D mm 容積[1000ℓ]

VC-062
VC-082
VC-102

試験槽種類

オーブン
温度試験槽
温湿度試験槽

A
B
D

冷凍機凝縮方式
(冷凍機冷却方式)

空冷式
水冷式

A
W
-

試験槽移動機構

槽固定式
槽レール移動式

F
M

複合方式

引出し式
底板脱着式
丸穴方式

X
Y
Z

温度範囲

RT+10~+100℃
RT+10~+150℃
RT+10~+180℃
-25~+100℃
-25~+150℃
-25~+180℃
-40~+100℃
-40~+150℃
-40~+180℃
-55~+100℃
-55~+150℃
-55~+180℃
-70~+100℃
-70~+150℃
-70~+180℃

01
02
03
21
22
23
31
32
33
41
42
43
51
52
53

温湿度調節方式

デジタル式調節器
LCDタッチキー方式プログラム調節器

M1
P3

記録計

5.7型TFTカラーLCD、入力6ch、
SDカード、オプション:入力12ch、LAN接続
5.7型TFTカラーLCD、入力10ch(最大100chまで増設可)、
SDカード、LAN接続

T

X

 

 ※ オプション   最大温度200℃

※ 本装置を海外へ輸出する際は、温度範囲・加振力等の仕様により経済産業省の輸出許可が必要になる場合があります。詳細はお問い合わせください。

カタログダウンロード
Get ADOBE READER

PDFファイルをご覧いただくには、「Adobe Reader」が必要です。
「Adobe Reader」はアドビ システムズ株式会社のサイトより、無償で配布されています。

関連する製品

ご購入・導入前の製品・サービスに関するお問い合わせ・ご相談はこちらから
お問い合わせ