• システム応用製品

高速寿命試験装置HALT/HASS EVTCシリーズ

高加速ストレス評価技術を支えたHALT/HASS EVTCシリーズ

HALT/HASS EVTCシリーズは、高加速ストレス環境下で製品の潜在的な弱点を短期間で抽出するための装置として提供されてきました。温度・振動ストレスを組み合わせた評価技術を通じて蓄積された知見は、現在のエミックの試験装置開発や受託試験サービスに生かされています。

※本装置は現在、製造販売を終了しております。
※装置仕様の詳細につきましては、当社までお問い合わせください。

※現在の製作可否については、個別にご相談ください。

高速寿命試験装置HALT/HASS EVTCシリーズ

HALT内部

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